本スタンダードは,global Silicon Wafer Committeeで技術的に承認されている。現版は2010年12月21日,global Audits and Reviews Subcommitteeにて発行が承認された。2011年2月にwww.semiviews.orgおよび www.semi.org で入手可能となる。初版は2005年3月発行,前版は2010年3月に発行された。
シリコン技術は集積回路(IC)および半導体デバイス産業の基礎である。シリコンサプライヤと顧客および業界関係者の共通の理解,正しいコミュニケーションを促進するために,この分野で使用される用語を定義する。
この用語定義文書は半導体用シリコン結晶およびウェーハに関する用語の定義を取り扱う。
Referenced SEMI Standards
SEMI M1 — Specifications for Polished Single Crystal Silicon Wafers
SEMI M20 — Practice for Establishing a Wafer Coordinate System
SEMI MF1811 — Guide for Estimating the Power Spectral Density Function and Related Finish Parameters from Surface Profile Data