Tag：StdVol-Materials

M01800 - SEMI M18 - シリコンウェーハ発注仕様書開発のガdイド

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M01900 - SEMI M19 - Specification for Electrical Properties of Bulk Gallium Arsenide Single Crystal Substrates

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M01900 - SEMI M19 - バルク・ガリウムヒ素単結晶基板の電気的性質（仕様）

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M02000 - SEMI M20 - ウェーハ座標システムの確立の作業方法

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M02100 - SEMI M21 - カーテシアン（デカルト）アレイにおける方形エレメントへの割当アドレスのガイド

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M02200 - SEMI M22 - Specification for Dielectrically Isolated (DI) Wafers

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M02300 - SEMI M23 - 鏡面単結晶インジウムリンウェーハの仕様

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M02400 - SEMI M24 - Specification for Polished Monocrystalline Silicon Premium Wafers

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M02400 - SEMI M24 - 鏡面単結晶プレミアムシリコンウェーハの仕様

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M02600 - SEMI M26 - Guide for the Re-Use of 100, 125, 150, and 200 mm Wafer Shipping Boxes Used to Transport Wafers

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M02600 - SEMI M26 - ウェーハの運搬に使用される100 mm，125 mm，150 mm，200 mmウェーハシッピングボックスの再利用ガイド

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M02900 - SEMI M29 - Specification for 300 mm Shipping Box

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M02900 - SEMI M29 - 300 mmシッピングボックスの仕様

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M00300 - SEMI M3 - Specifications for Polished Monocrystalline Sapphire Substrates

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M03000 - SEMI M30 - Standard Test Method for Substitutional Atomic Carbon Concentration in GaAs by Fourier Transform Infrared Absorption Spectroscopy

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M03100 - SEMI M31 - 300 mmウェーハの搬送および出荷用フロントオープニング・シッピングボックスの機械仕様

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M03200 - SEMI M32 - Guide to Statistical Specifications

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M03200 - SEMI M32 - 統計的仕様のガイド

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